產(chǎn)品詳情
產(chǎn)品名稱：顯微CT空間分辨率卡
產(chǎn)品編號：20250828-09
產(chǎn)品質(zhì)保：12個月
產(chǎn)品簡介：可以按照客戶要求非標(biāo)定制，以下為產(chǎn)品的可供參考的：技術(shù)參數(shù)與應(yīng)用說明，僅供參考，更多詳情請咨詢：廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司
顯微CT空間分辨率卡是專為高精度CT系統(tǒng)設(shè)計(jì)的核心校準(zhǔn)工具，其核心參數(shù)涵蓋10-15組精密線對（典型配置為12組），線對密度范圍覆蓋3μm至100μm，滿足微米級分辨率檢測需求。采用高純度硅基材質(zhì)（厚度400-500μm）與碳纖維支撐體結(jié)構(gòu)，確保在X射線穿透時保持均勻衰減特性，基底直徑嚴(yán)格控制在1.5mm以內(nèi)，適配顯微CT的小視場成像環(huán)境。依據(jù)SY20240612-05等行業(yè)編碼標(biāo)準(zhǔn)制造，內(nèi)置環(huán)形同心圓與平行線對雙重測試圖案，配套微米級標(biāo)尺實(shí)現(xiàn)量化分析。
該測試卡的核心用途是通過三維空間分辨率驗(yàn)證，吻合評估CT設(shè)備區(qū)分相鄰微結(jié)構(gòu)的能力（以線對/厘米/lp/cm量化）。在設(shè)備質(zhì)檢環(huán)節(jié)，可檢測系統(tǒng)重建算法穩(wěn)定性并辨識環(huán)狀偽影；日常運(yùn)維中用于監(jiān)控探測器性能衰減與射線源焦點(diǎn)漂移，確保氣孔、裂紋等亞毫米級缺陷的成像可靠性。相較于傳統(tǒng)二維測試卡，其三維結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)可同步驗(yàn)證軸向與橫向分辨率，尤其適用于新能源電池極片檢測、MEMS器件微裝配、生物組織顯微成像等高端領(lǐng)域。國際方案比對驗(yàn)證，本測試卡在微焦點(diǎn)CT系統(tǒng)中可實(shí)現(xiàn)≤5μm的重復(fù)性測量精度，為廠家檢測等標(biāo)準(zhǔn)校驗(yàn)提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支撐
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可以非標(biāo)訂制：可以按照客戶要求非標(biāo)定制：顯微CT空間分辨率卡
產(chǎn)品編號：20250828-09
