產(chǎn)品詳情
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新產(chǎn)品的設(shè)計目標清楚地瞄準為亞微米幾何尺寸器件評估提供前所未見的精度和功能。它是一種可靈活使用的儀器,無疑對從材料評價至器件性牟的表征,乃至蕞后封裝等各個階段的部分檢查和現(xiàn)場故障分析可提供諸多應(yīng)用,以改進半導(dǎo)體器件的質(zhì)量。
正確方案的抉擇
Agilent 4155B設(shè)有四個內(nèi)置源/監(jiān)測單元(SMU),兩個電壓單元(VSU),兩個電壓監(jiān)測單元(VMU),對于具有非開氏連接的基本半導(dǎo)體連接,4155B可謂是蕞佳選擇,分辨為10fA/1μV測量范圍為100mA/100V。
任何時候,均可增添41501B SMU和脈沖發(fā)生器擴展器。它由0V/1.6A接地單元饋送可擴展接收兩100mA/100V SMU或一個1A/200V SMU和兩上同步40V/1μs脈沖發(fā)生器。
設(shè)定和測量



