產(chǎn)品詳情
圓光柵
ATOM是世界上第一款具有獨特光學濾波系統(tǒng)及自動增益控制 (AGC) 和自動偏置控制 (AOC) 功能的微型光柵（這些系統(tǒng)與功能同樣可在TONiC?緊湊型光柵系列中找到），擁有無可比擬的測量性能和一流的測量精度。
圓光柵配備的RCDM玻璃碼盤的直徑范圍從?17 mm至?108 mm，提供40 μm或20 μm兩種柵距類型。ATOM讀數(shù)頭的工作速度可達29,000 RPM（在?17 mm碼盤上），分辨率可達0.004角秒（在?108 mm碼盤上）。
選項
ATOM RCDM增量式圓光柵碼盤
刻線數(shù)：1024至16,384 CPR（10至14位）
碼盤提供20 μm或40 μm兩種柵距類型，直徑范圍從?17 mm至?108 mm
標準刻劃精度可達±0.5 μm（消除偏心后）
熱膨脹系數(shù)為~8 μm/m/oC
單個參考零位位于增量碼道內(nèi)側(cè)
低質(zhì)量與低轉(zhuǎn)動慣量增強了動態(tài)性能
技術(shù)
紅外 (IR) 發(fā)光二極管將光線射到柵尺上，它是一種柵距為20 μm或40 μm的平面反射光柵。柵尺均勻且周期性好，這一點非常重要，但不要求其為優(yōu)質(zhì)的衍射光柵。
參考零位為一道亮線，沿著增量柵尺碼道刻劃，它由讀數(shù)頭內(nèi)部單獨的分離式光電檢測器進行檢測。ATOM使用與雷尼紹TONiC光柵相同的光學原理，但是入射的紅外光束從增量柵尺/參考碼道反射后被分成兩束，這樣做的目的是盡量減少系統(tǒng)占用空間。
內(nèi)部光學器件采用對多個光柵周期進行平均的技術(shù)，有效濾除臟污和油脂等引起的非周期性特征。名義方波光柵條紋也被濾去，以在光電探測器上留下一個完美的正弦波形，這將產(chǎn)生4個對稱相位信號形式的光電流。這些結(jié)合在一起可免去DC器件，并可輸出具有高光譜純度和低偏置值的正交正弦和余弦信號，同時保持高達500 kHz的帶寬。
通過主動調(diào)節(jié)增量通道增益、偏置量以及對ATOM讀數(shù)頭內(nèi)的LED光源進行控制，可使這些信號的平衡和電平控制進一步得到增強。因此，固有周期誤差（電子細分誤差，SDE）可以低至柵尺刻劃周期的0.375%。
ATOM
RCDM玻璃碼盤可供選擇的最小直徑為?17 mm，刻劃精度可達±5 μm/m。
概述
ATOM增量式圓光柵將微型化與優(yōu)異的抗污能力、信號穩(wěn)定性和可靠性完美結(jié)合。這一結(jié)合在市場中是獨樹一幟的，代表了微型光柵性能和可靠性的重大進步。ATOM是世界上第一款具有獨特光學濾波系統(tǒng)及自動增益控制 (AGC) 和自動偏置控制 (AOC) 功能的微型光柵（這些系統(tǒng)與功能同樣可在TONiC?緊湊型光柵系列中找到），擁有無可比擬的測量性能和一流的測量精度。
圓光柵配備的RCDM玻璃碼盤的直徑范圍從?17 mm至?108 mm，提供40 μm或20 μm兩種柵距類型。ATOM讀數(shù)頭的工作速度可達29,000 RPM（在?17 mm碼盤上），分辨率可達0.004角秒（在?108 mm碼盤上）。
選項
ATOM RCDM增量式圓光柵碼盤
刻線數(shù)：1024至16,384 CPR（10至14位）
碼盤提供20 μm或40 μm兩種柵距類型，直徑范圍從?17 mm至?108 mm
標準刻劃精度可達±0.5 μm（消除偏心后）
熱膨脹系數(shù)為~8 μm/m/oC
單個參考零位位于增量碼道內(nèi)側(cè)
低質(zhì)量與低轉(zhuǎn)動慣量增強了動態(tài)性能
技術(shù)
紅外 (IR) 發(fā)光二極管將光線射到柵尺上，它是一種柵距為20 μm或40 μm的平面反射光柵。柵尺均勻且周期性好，這一點非常重要，但不要求其為優(yōu)質(zhì)的衍射光柵。
參考零位為一道亮線，沿著增量柵尺碼道刻劃，它由讀數(shù)頭內(nèi)部單獨的分離式光電檢測器進行檢測。ATOM使用與雷尼紹TONiC光柵相同的光學原理，但是入射的紅外光束從增量柵尺/參考碼道反射后被分成兩束，這樣做的目的是盡量減少系統(tǒng)占用空間。
內(nèi)部光學器件采用對多個光柵周期進行平均的技術(shù)，有效濾除臟污和油脂等引起的非周期性特征。名義方波光柵條紋也被濾去，以在光電探測器上留下一個完美的正弦波形，這將產(chǎn)生4個對稱相位信號形式的光電流。這些結(jié)合在一起可免去DC器件，并可輸出具有高光譜純度和低偏置值的正交正弦和余弦信號，同時保持高達500 kHz的帶寬。
通過主動調(diào)節(jié)增量通道增益、偏置量以及對ATOM讀數(shù)頭內(nèi)的LED光源進行控制，可使這些信號的平衡和電平控制進一步得到增強。因此，固有周期誤差（電子細分誤差，SDE）可以低至柵尺刻劃周期的0.375%。
通過應用合適的電平感應和門控電路，ATOM提供的參考零位輸出的雙向重復性均可達到可用的系統(tǒng)分辨率。安裝后，相應的模擬通道的相位校準通過讀數(shù)頭內(nèi)的邏輯自動執(zhí)行，并提供全面的系統(tǒng)監(jiān)控和安裝幫助。
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