產(chǎn)品詳情
手動翻蓋/雙扣/旋鈕能結(jié)構(gòu),根據(jù)不同芯片與測試環(huán)境選擇設(shè)計方案
采用進(jìn)口探針,探針表面做鍍金處理,接觸性能穩(wěn)定,高溫使用壽命3000H以上,高效率,低成本
高精密定位槽和導(dǎo)向孔,保證IC定位精準(zhǔn),測試效率高
滿足三溫:-55攝氏度/常溫/+150攝氏度,高低溫沖擊測試,間距最小可以做到pitch=0.25mm
滿足HAST,HTOL等各類burn-in老化測試,整套出貨交付更快更便捷


