產(chǎn)品詳情
一、低氣壓試驗可能引發(fā)哪些產(chǎn)品故障
1. 密封失效:氣體或液體因內(nèi)外壓差從密封結(jié)構(gòu)中泄漏,常見于輸液泵、植入式器械的密封部件。
2. 材料性能退化:非金屬材料(如橡膠、塑料)在低氣壓下可能加速老化,潤滑劑揮發(fā)或可塑劑遷移,影響設(shè)備壽命。
3. 電氣性能劣化:空氣密度降低導(dǎo)致絕緣材料介電強度下降,電暈電壓和擊穿電壓顯著降低(海拔每升高1000米,擊穿電壓下降8%-13%),易引發(fā)短路或漏電。
4. 散熱效率降低:空氣對流減弱導(dǎo)致設(shè)備溫升增加,海拔每升高1000米,散熱效率下降3%-10%,可能引發(fā)過熱故障。
5. 機械結(jié)構(gòu)變形:密閉腔體因內(nèi)外壓差破裂,或包裝在運輸過程中因氣壓驟變損壞。
二、檢測項目內(nèi)容
常溫低氣壓試驗;低溫低氣壓試驗;高溫低氣壓試驗。
三、低氣壓試驗常用檢測標(biāo)準
GB/T 2423.21-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗M:低氣壓》
IEC60068-2-13:1983《基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2部分:試驗 試驗M:低氣壓》
GB/T2423.27-2020《環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗方法和導(dǎo)則:溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗》
IEC60068-2-39:2015《環(huán)境試驗 第2-39部分:試驗 試驗方法和導(dǎo)則:溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗》
GJB150.2A-2009《裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第2部分:低氣壓(高度)試驗》
GJB150.24A-2009《裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第24部分:溫度-濕度振動-高度試驗》
GJB1621.7A-2006《技術(shù)裝備通用技術(shù)要求 第7部分:環(huán)境適應(yīng)性要求和試驗方法》
GJB3947A-2009《電子測試設(shè)備通用規(guī)范 》
GJB2225A-2008《地面電子對抗設(shè)備通用規(guī)范》
TB/T3537-2018《鐵路車站計算機聯(lián)鎖測試規(guī)范》
TB/T3027-2015《鐵路車站計算機聯(lián)鎖技術(shù)條件》
EN50125-3:2003《軌道交通 設(shè)備環(huán)境條件 第3部分:信號和通信設(shè)備》
GB/T 7261-2016《繼電保護和安全自動裝置基本試驗方法》
四、低氣壓試驗設(shè)備能力
溫度范圍:-70℃~+150℃
氣壓范圍:常壓~0.5kPa
試驗區(qū)域尺寸:1000 (寬) x 1000 (深) x 1000 (高) mm
安裝有 1 個 ?50mm 的通電孔,可對樣機通電和監(jiān)控


