產(chǎn)品詳情
德國e+h雷達物位計
WBFLEX60系列雷達物位計用于對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續(xù)測量，適用于溫度、壓力變化大；有惰性氣體及蒸發(fā)存在的場合。采用微波脈沖的測量方法，并可在工業(yè)頻率波段范圍內(nèi)正常工作。波束能量較低，可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內(nèi)，對人體及環(huán)境均無傷害。
雷達物位計特性
無盲區(qū)
高精度
兩線制技術
不受壓力，真空或溫度影響
安裝簡便，牢固耐用，免維護
標定簡便
測量影響快
適用于真空及高溫工況
發(fā)射能量很低的極短的微波脈沖通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件背轉換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極 短時間內(nèi)穩(wěn)定和精確的測量。
輸入 天線接收反射的微波脈沖并將其傳輸給電子線路，微處理器對此信號進行處理，識別出微波脈沖在物料表面所產(chǎn)生的回波。正確的回波信號識別由智能軟件完成，精度可達到毫米級。距離物料表面的距離D與脈沖的時間行程T成正比： D=C×T/2 其中C為光速
因空罐的距離E已知，則物位L為：
L=E-D
100%*德國E+H&&德國E+H深圳banshichu
雷達物位計 測量條件
注意事項
測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算，但在特殊情況下，若罐低為凹型或錐形，當物位低于此點時無法進行測量。若介質為低介電常數(shù)當其處于低液位時，罐低可見，此時為保證測量精度，建議將零點定在低高度為C 的位置。理論上測量達到天線*的位置是可能的，但是考慮到腐蝕及粘附的影響，測量范圍的終值應距離天線的*至少50mm。對于過溢保護，可定義一段安全距離附加在盲區(qū)上。zui小測量范圍與天線有關。
雷達物位計 參數(shù)
工作頻率： 10.3G/26G
測量范圍：0…70mm（標準）
重復性 ：＋/－3mm
分辨率 ：1mm
采樣 ：回波采樣54次/s
響應速度：>0.3s（根據(jù)具體使用情況而定）
電流信號：4…20mA
精度 ：<0.1%或10mm（0~20m） 20mm（大于20m）
通訊接口 HART通訊協(xié)議
WBFLEX60系列雷達物位計用于對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續(xù)測量，適用于溫度、壓力變化大；有惰性氣體及蒸發(fā)存在的場合。采用微波脈沖的測量方法，并可在工業(yè)頻率波段范圍內(nèi)正常工作。波束能量較低，可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內(nèi)，對人體及環(huán)境均無傷害。
雷達物位計特性
無盲區(qū)
高精度
兩線制技術
不受壓力，真空或溫度影響
安裝簡便，牢固耐用，免維護
標定簡便
測量影響快
適用于真空及高溫工況
發(fā)射能量很低的極短的微波脈沖通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件背轉換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極 短時間內(nèi)穩(wěn)定和精確的測量。
輸入 天線接收反射的微波脈沖并將其傳輸給電子線路，微處理器對此信號進行處理，識別出微波脈沖在物料表面所產(chǎn)生的回波。正確的回波信號識別由智能軟件完成，精度可達到毫米級。距離物料表面的距離D與脈沖的時間行程T成正比： D=C×T/2 其中C為光速
因空罐的距離E已知，則物位L為：
L=E-D
100%*德國E+H&&德國E+H深圳banshichu
雷達物位計 測量條件
注意事項
測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算，但在特殊情況下，若罐低為凹型或錐形，當物位低于此點時無法進行測量。若介質為低介電常數(shù)當其處于低液位時，罐低可見，此時為保證測量精度，建議將零點定在低高度為C 的位置。理論上測量達到天線*的位置是可能的，但是考慮到腐蝕及粘附的影響，測量范圍的終值應距離天線的*至少50mm。對于過溢保護，可定義一段安全距離附加在盲區(qū)上。zui小測量范圍與天線有關。
雷達物位計 參數(shù)
工作頻率： 10.3G/26G
測量范圍：0…70mm（標準）
重復性 ：＋/－3mm
分辨率 ：1mm
采樣 ：回波采樣54次/s
響應速度：>0.3s（根據(jù)具體使用情況而定）
電流信號：4…20mA
精度 ：<0.1%或10mm（0~20m） 20mm（大于20m）
通訊接口 HART通訊協(xié)議
隨濃度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以將其反射，但在一定的條件下是可以進行測量的。
https://www.chem17.com/st247818/product_11215906.html
http://www.ensdress.com/SonList-886527.html
