產(chǎn)品詳情
Omni-λ200i“影像譜王”系列光柵光譜儀具有光譜范圍廣、靈敏度高、測量精度高的特點，機械和溫度穩(wěn)定性優(yōu)良，能有效保證產(chǎn)品一致性。其設(shè)計便于集成，且成本低、操作簡便，適用于OEM應(yīng)用。該光譜儀提供多種光柵和探測器選擇，并支持多種附件擴展功能，如濾光片輪、電動狹縫等，能夠靈活應(yīng)用于熒光、拉曼等多種光譜測試場景。
特點：
- 光譜范圍廣，靈敏度高，測量精準度高；
- 優(yōu)良的機械和溫度穩(wěn)定性，絕對保證產(chǎn)品的一致性；
- 預(yù)留各種接口，兼容各種光譜設(shè)備, 穩(wěn)定的光學(xué)性能，方便集成到系統(tǒng)中;
- 成本低，操作簡單，是OEM應(yīng)用的理想選擇;
- 采用超環(huán)面影像校準設(shè)計，光譜影像校正，多通道光譜研究的卓越解決方案
- 出色的雜散光抑制比（1*10-5）
- 雙光柵塔輪設(shè)計，覆蓋UV-VIS-IR全波段光譜范圍，即插即用，只需零級校正，實驗操作更加方便；
- 多種高性能的紫外-可見-紅外探測器可選
- 多種附件可選，包括：濾光片輪、電動狹縫、電動快門、光纖等
- 可與光源、探測器自由組合，實現(xiàn)熒光、拉曼、透射/反射、吸收光譜及光源發(fā)射光譜測試。
規(guī)格參數(shù)表（@1200g/mm光柵）：
規(guī)格參數(shù)表@不同光柵：
注 1：狹縫光譜分辨率，常規(guī)光譜儀在中心波長 435.83nm，狹縫寬度為 10μm；鍍金光譜儀在中心波長 632.8nm，狹縫寬度 100μm；
注 2：200i 光譜儀，只有側(cè)入口，沒有直入口；出口，只有側(cè)出口才能配置 CCD 接口；出口狹縫無法配置電動狹縫。
注 3：CCD 單次攝譜范圍、倒線色散為中心波長為 435.83nm 下的典型值，隨著中心波長增加，攝譜范圍變窄；
注 4：隨著中心波長的增大，倒線色散數(shù)值減小；隨著中心波長的減小，倒線色散數(shù)值增大。
典型型號表：
注1：本型號系列，為手動狹縫（電動狹縫需要額外選擇）；
注2：本型號系列，需要額外選配光柵，最多可配置2塊光柵；
注3：本型號系列，不包含濾光片輪、快門等附件，需要額外選擇配置；CCD出口已配置CCD接口法蘭；
注4：更多配置型號，請咨詢本公司相關(guān)銷售。
典型Omni-λ200i外形尺寸圖：
注1：Omni-λ200i的CCD出口，默認已經(jīng)安裝法蘭；
注 2：Omni-λ200i 默認配置手動狹縫，如果選配其它狹縫，請查看相關(guān)狹縫的尺寸圖。
Omni-λ200i入口
Omni-λ200i出口
