產(chǎn)品詳情
特點:
- 光譜范圍廣,靈敏度高,測量精準度高;
- 優(yōu)良的機械和溫度穩(wěn)定性,絕對保證產(chǎn)品的一致性;
- 預(yù)留各種接口,兼容各種光譜設(shè)備, 穩(wěn)定的光學(xué)性能,方便集成到系統(tǒng)中;
- 成本低,操作簡單,是OEM應(yīng)用的理想選擇;
- 采用超環(huán)面影像校準設(shè)計,光譜影像校正,多通道光譜研究的卓越解決方案
- 出色的雜散光抑制比(1*10-5)
- 雙光柵塔輪設(shè)計,覆蓋UV-VIS-IR全波段光譜范圍,即插即用,只需零級校正,實驗操作更加方便;
- 多種高性能的紫外-可見-紅外探測器可選
- 多種附件可選,包括:濾光片輪、電動狹縫、電動快門、光纖等
- 可與光源、探測器自由組合,實現(xiàn)熒光、拉曼、透射/反射、吸收光譜及光源發(fā)射光譜測試。
規(guī)格參數(shù)表@不同光柵:
注 1:狹縫光譜分辨率,常規(guī)光譜儀在中心波長 435.83nm,狹縫寬度為 10μm;鍍金光譜儀在中心波長 632.8nm,狹縫寬度 100μm;
注 2:200i 光譜儀,只有側(cè)入口,沒有直入口;出口,只有側(cè)出口才能配置 CCD 接口;出口狹縫無法配置電動狹縫。
注 3:CCD 單次攝譜范圍、倒線色散為中心波長為 435.83nm 下的典型值,隨著中心波長增加,攝譜范圍變窄;
注 4:隨著中心波長的增大,倒線色散數(shù)值減小;隨著中心波長的減小,倒線色散數(shù)值增大。
典型型號表:

Omni-λ200i入口


